攀枝花大面积表面污染仪

盖革Geiger和弥勒Muller发明的一种计数管简称G-M计数管，其特点是结构简单，易于制造，价格便宜，易于操作，输出脉冲幅度大，对电子学线路要求简单，是放射性同位素应用和测量剂量工作中常用的核辐射探测器，缺点是死时间长，因此它不能用于高计数率的场合。

1 工作原理，利用气体放**量地增加收集电荷，它工作在IV区（G-M区），G-M管内的电场比正比计数管内的要高得多，在适当的条件下除电离电子增殖产生的雪崩外，还有光子引起的光电子产生新的雪崩。 径迹探测器是直接记录粒子走过径迹图像的探测器。攀枝花大面积表面污染仪

为了提高放射性αβ表面污染仪的，同时也为了保证产品与使用者的安全，请仔细阅读并认真遵守以下原则：避免在有可燃气体的场合使用本产品；在维护本产品之前，请切断与本产品有关的电源；只能使用本公司认可的或自带的电池充电器和电池产品的替换件；非专业人员请勿自行拆卸及维修本产品（更换电池除外），以免产品保修失效；仪器探测器底部网状探测窗为易碎品，在使用和存入过程中，切勿触摸、挤压、刺碰等，否则将导致探测器无法正常工作，且难以修复。固定式放射性表面污染仪 流气式固体径迹探测器是一种利用辐射损伤效应记录重带电粒子径迹的探测器。

闪烁体单次激发后，发射光子的速率下降到初始值的1/e所需的时间为τ（e=2.718…），λ=1/τ称为闪烁衰减常数。对于有机闪烁体τ=10-8至10-9s，无机闪烁体τ=10-5至10-7s，一般认为闪烁体的闪烁衰减用**函数来描述，对于有两个以上衰减成分组成的闪烁体，常给出平均衰减时间。闪烁衰减不仅与闪烁体种类有关，还与***剂、闪烁物质、移波剂的性质与含量、激发闪烁的方式（辐射种类）及闪烁体的温度有关。闪烁体受单次激发后，其光子发射率由比较大值10%上升到90%所需的时间，称为闪烁上升时间，而其光子发射率由比较大值的90%下降到10%所需的时间，称为闪烁下降时间。

离子感烟探测器没有放射性污染的，该探测器是严格按照国标来生产。下面通过对离子感烟探测器内部的а放射源工作原理分析，来解释的。离子感烟探测器内部的а放射源是由镅-241(Am241)发出。物质的放射性来自原子核的自发衰变过程如下:Am241->237Np+42He由于а粒子比电子重得多,且带两个单位正电量,其穿透能力很弱。能量为5MeV的а粒子在空气中的射程为*10cm,所以屏蔽遮挡很容易,同时а粒子的电离能力很强,当它穿过物质时,每次与物质分子或原子碰撞而打出一个电子,约失33eV能量,一个能量为5MeV的а粒子,在它完全静止前,大约可以电离15万个左右的分子或原子。采用放射源Am241的优点,除了电离能力强,射程短以外,其半衰期长,成本也较低。离子感烟探测器主要是利用烟雾粒子改变电离室电流原理而设计的探测器。探测器内部装有а放射源的电离室为传感器件,现今使用大多为单源双室结构(补偿室,测量室),再配上相应的电子电路或CPU芯片所构成。X射线正比计数管是一种带有能透过X射线入射窗的正比计数管。

计量器具标识：α、β表面污染仪应具有生产厂家、规格型号、出厂编号以及接线端口等清晰标识。

检定条件

计量标准：α标准平面源，表面发射率范围（103至105）/(min.2πsr)，相对扩展不确定度不超过5%（K=2）;平面源表面发射率的不均匀性不超过10%。

参考核素：241Am,239Pu。

β标准平面源：表面发射率范围（104至106）/(min.2πsr)，相对扩展不确定度不超过5%（K=2）;平面源表面发射率的不均匀性不超过10%。

参考核素：204Tl，36Cl。

如果探测器用于测量比较大能量小于200keV的β粒子，参考核素为14C。 平行板雪崩室是由两平行平面电极构成，并工作在正比放电区的气体电离探测器。攀枝花大面积表面污染仪

常用的表面污染仪有哪些型号？攀枝花大面积表面污染仪

G-M管的常用种类，根据猝灭气体的种类而区分，可以把G-M管分为有机G-M管与卤素G-M管，惰性气体与有机气体的*jia比例为9：1，与卤素气体的比例为99：1，99.9：0.1，G-M管内充入的工作气体和猝灭气体纯度要求高，要光谱纯，气体总压为（10至200）x133.32Pa。下面介绍几种常用的G-M计数管。γ计数管：主要是γ射线在作阴极用的管壁上打出电子，然后电子在管内引起雪崩倍增而被记录。钟罩形α和β计数管。强流管是一种用于测量**度辐射的卤素计数管。攀枝花大面积表面污染仪

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